產(chǎn)品介紹

使用說明

測試表面是與標記表面相對的一側，其中包括 SRM 編號。該裝置的整個厚度都經(jīng)過認證。但是，警告用戶在使用 X 射線熒光光譜法時不要測量厚度小于 2 毫米的圓盤。每個封裝的磁盤都是通過使用銑削完成測試表面來準備的機器。用戶必須為每種分析技術確定正確的表面處理程序。提醒用戶在重修磁盤或進行額外拋光時要小心，因為這些過程可能會污染表面。 NIST 發(fā)現(xiàn)在表面磨削過程中必須經(jīng)常更換砂紙。用過的紙失去了去除鋼材表面污染物的能力。不使用時，應將材料存放在其原始容器中，置于陰涼干燥的地方。使用實心圓盤和由圓盤制備的芯片測試該材料。認證值被認為代表了材料的總體平均成分。

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